Publications
Authors | Hempel, S. ; Pleul, D. ; Simon, F. |
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Title | Detaillierter Blick auf die Oberfläche - XPS an mikrodimensionierten Proben |
Date | 27.09.2012 |
Number | 34702 |
Abstract | No abstract. |
Publisher | GIT Labor-Fachzeitschrift |
Wikidata | |
Citation | GIT Labor-Fachzeitschrift (2012) 657-659 |
DOI | http://www.git-labor.de/printausgabe/git-labor-fachzeitschrift-92012 |
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