Konfokales Raman-Mikroskop und Raman-Imaging-System alpha 300R (WITec)                                                     

• Laser: 532 nm und 785 nm
• Detektor: CCD (532 nm, 785 nm) und EMCCD (532 nm)
• Interner and externer Heiztisch
• Messmodi: Einzelspektren, kontinuierliche Messung (Time Series), spektrales 2D/3D-Imaging, Tiefenprofilmessung
• True Surface (topografische Profilerstellung)
• Optische Hellfeld- und Dunkelfel-Mikroskopie
• Ortsauflösung: 240 nm lateral, 500 nm vertikal
• Partikelanalyse-Modul ParticleScout

Raman-Mikroskop Renishaw inVia Qontor 

• Laser: 532 nm, 633 nm und 785 nm
• Detektor: CCD
• Messmodi: Einzelspektren, Kachelbildaufnahme "Surface Montage", spektrales 2D/3D-Imaging, liveTrack, focusTrack
• Spektrales Stitching
• Automatischer Laserwechsel
• Optische Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie
• Auflösung: 240 nm lateral
• Partikelanalyse-Modul