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May 13: Dr. Wojciech Ogieglo, Swellipsometry and Tellipsometry: in-situ spectroscopic ellipsometry for studies of thin polymer films and membranes - FÄLLT AUS!
ACHTUNG: Kolloquium Dr. Wojciech Ogieglo FÄLLT AUS!
Dr. Wojciech Ogieglo
DWI - Leibniz-Institut für Interaktive Materialien e.V.
Titel: Swellipsometry and Tellipsometry: in-situ spectroscopic ellipsometry for studies of thin polymer films and membranes
May 13, 2015, 10:00, Konferenzsaal
13.05.2015