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Methoden

Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)
  • Qualitative und quantitative Oberflächenanalyse. Tiefenprofilanalyse auf molekularer Ebene ohne Zerstörung der Probe. Bestimmung der Oxidationsstufen von Elementen. Qualitative und quantitative Oberflächenanalyse funktioneller Oberflächengruppen einschließlich Strukturaufklärung.
  • Kryo-XPS, Thermo-XPS, bildgebende XPS mit Mikrometerauflösung, Small-Spot-XPS.
Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS)
  • Qualitative Oberflächenanalyse funktioneller Oberflächengruppen und Strukturaufklärung. Analyse molekularer Polymerstrukturen und Masse der Polymer-Wiederholungseinheiten. Analyse von Polymer-Endgruppen, Additiven, Verunreinigungen, Modifikatoren usw., einschließlich Spurenanalyse. Bildgebung der lateralen Verteilung von Molekülen mit Nanometerauflösung.

Expertise

Weiterführende Charakterisierung
  • Structural elucidation and evaluation of the reactivity of surfaces, detection and in-situ monitoring of surface reactions, investigations of molecularly ordered surfaces including determination of the degree of coverage.

Kontakt

Ansprechpartner Oberflächenanalyse

Frank Simon
351 4658 488