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Authors Braun, H.-G. ; Meyer, E.
Title Some new application aspects of scanning microscopy
Physics meets industry : Physical Measuring techniques for Industrial Requirements, J. Gegner, F. Haider, ed.
Date 17.04.2007
Number 14989
Abstract Today, dwindling public subsidies due to excessive national dept and constantly rising cost pressure in consequence of globalization, respectively, to an increasing extent force universities and research institutes on one as well as the industry on the other side to closer cooperation. In order to enhance the prospects of this development in the field of material physics, the German Society for Physics (Deutsche Physikalische Gesellschaft, DPG) organizes the symposium “Physics meets Industry – Physical Measuring Techniques for Industrial Requirements” (PmI-2007) at its Spring Conference “Solid State Physics” in Regensburg on 2007-03-28. The proceedings include selected contributions as complete papers, amongst others, on the following topics: residual stress and X-ray fine structure analysis, scanning electron microscopy, secondary ion mass spectroscopy, heat treatment technology, surface analysis, thin films and coatings. <br />Infolge immenser Staatsverschuldung dramatisch schwindende öffentliche Fördermittel bzw. wegen Globalisierung unaufhörlich wachsender Kostendruck zwingen heute Universitäten und Forschungsinstitute auf der einen sowie die Industrie auf der anderen Seite in zunehmendem Maße zu engerer Zusammenarbeit. Um die Chancen dieser Entwicklung im Bereich der Materialphysik zu fördern, veranstaltet die Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG) auf ihrer Frühjahrstagung „Festkörperphysik“ in Regensburg am 28.03.2007 das Symposium „Physik trifft Industrie – Physikalische Messtechniken für industrielle Anforderungen“ (PmI-2007). Der Tagungsband umfasst als vollständige Fachartikel ausgewählte Beiträge u. a. zu folgenden Themen: Eigenspannungs- und Röntgenfeinstrukturanalyse, Rasterelektronenmikroskopie, Sekundärionenmassenspektroskopie, Wärmebehandlungstechnologie, Oberflächenanalyse, dünne Filme und Schichten. <br /><br />Contents: <br />Science meets Industry: Recognize the Signs of the Times <br />X-Ray Techniques: Röntgenbeugung-Eigenspannungsanalyse: eine der wenigen hoch entwickelten physikalischen Messtechniken, die sich für die Routineanwendung in der Industrie etabliert haben – New Possibilities for X-Ray Diffractometry – Measurements of Nano-Ordered Structure in Biological Macromolecules using SAXS Technique <br />Mechanical Property Determination: The Multiple-Incremental Hole Drilling Method for Determination of Measurement Uncertainties of Residual Stress Measurements using the Hole Drilling Method – Quantitative Elastic Modulus Measurement at the Nanoscale using Atomic Force Microscope – Modulation of Stress-GBD Curves of a Polycrystalline Fibre Mat using a Micromechanic Model <br />Further Material Analysis Techniques: On the Application of SIMS for the Determination of Carbon Depth Profiles – SIMS and XRD Measurements for the Critical Review of Carbon Diffusivity Derivation from Hardness Profiles – On the Feasibility of Nitrogen Concentration Measurements in Steels by SIMS – Some New Application Aspects of Scanning Electron Microscopy <br />Characterization of Material Processing: The Deposition Process of Nanoscaled Multilayer Coatings for X-Ray Optics – Fabrication and Mechanical Properties of Metal Thin Films and Nanostructured Metal<br /><br />ISBN 978-3-8169-2740-2
Publisher expert Verlag
Wikidata
Citation expert Verlag (2007) 99-108
DOI http://www.expertverlag.de/php/isbn.php?i=2740-2
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