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Ellipsometrie an organischen dünnen Schichten

Wir analysieren die strukturellen und optischen Eigenschaften neuer organischer Materialien in nm-dünnen Filmen für Anwendungen in Bio-Grenzflächen und organischer Elektronik.

Mit Hilfe der spektroskopischen Ellipsometrie untersuchen wir

  • die Quellung von Polymerfilmen
  • die Adsorption von Biomolekülen
  • temperaturabhängige Phasenübergänge
  • anisotrope optische Eigenschaften von Halbleiterschichten für OPV oder OLED

Um die Entwicklung der Morphologie in organischen Dünnschichten zu verstehen, nutzen wir zusätzlich IR-spektroskopische Techniken zur Analyse von intermolekularen Wechselwirkungen in ultradünnen Filmen und untersuchen kristalline Texturen mit Hilfe der Röntgenweitwinkelstreuung (GIWAXS) im streifenden Einfall.

 

Projekte

  • 8/2019 - 10/2022: Erforschung von Technologien zur effizienten Dünnschichtverkapselung flexibler elektronischer Bauelemente (TFE4OPV), Heliatek GmbH, IPF: P. Uhlmann (NM), E. Bittrich (MSA), Partner: Fraunhofer FEP
  • 8/2017 - 04/2020: Bioinspirierte molekulare Selbst-Assemblierung von Donor-Akzeptor-Netzwerken organischer Solarzellen (InspirA), Heliatek GmbH, IPF: P. Uhlmann (NM), E. Bittrich (MSA), Partner: Friedrich-Schiller University Jena, Synthon Chemicals GmbH & Co. KG