Publikationsliste
| Authors | Hempel, S. ; Pleul, D. ; Simon, F. |
|---|---|
| Title | Detaillierter Blick auf die Oberfläche - XPS an mikrodimensionierten Proben |
| Date | 27.09.2012 |
| Number | 34702 |
| Abstract | No abstract. |
| Publisher | GIT Labor-Fachzeitschrift |
| Wikidata | |
| Citation | GIT Labor-Fachzeitschrift (2012) 657-659 |
| DOI | http://www.git-labor.de/printausgabe/git-labor-fachzeitschrift-92012 |
| Tags |